　　晶體使用常見問題系列二之無信號(hào)輸出情況的分析及解決方案.
　　對于晶振這種頻控電子元器件來說,非常容易就會(huì)出現(xiàn)故障,上一期文章中我們提出的三個(gè)問題只是其中的一個(gè)方面,除此之外,石英晶振無信號(hào)輸出也是常見問題;那么這種現(xiàn)象是什么造成的呢?有沒有什么好的解決辦法呢?
　　第一步,遇到這樣的情況請使用示波器或頻率計(jì)數(shù)器測量晶體的兩個(gè)端子輸出的信號(hào).如果沒有信號(hào)輸出,請按照步驟1-1至步驟1-4執(zhí)行檢查.如果晶體的外部端子(Xout)有信號(hào)輸出,而晶體內(nèi)部的端子(Xin)無信號(hào)輸出,請按照步驟1-5至步驟1-6檢查晶體.
　　第二步請卸載晶體,并測試其頻率和負(fù)載電容,以使用專業(yè)的測試機(jī)查看它們是否振動(dòng)并符合您的規(guī)格.您也可以將其發(fā)送給您的供應(yīng)商,讓他們?yōu)槟鷾y試.
　　第三步,如果出現(xiàn)以下任何一種情況,晶體不振動(dòng),其負(fù)載電容不符合您的規(guī)格,或者電流頻率與目標(biāo)頻率之間存在巨大差距,請將該晶體發(fā)送給您的供應(yīng)商進(jìn)行質(zhì)量分析.如果頻率和負(fù)載電容符合您的規(guī)格,就需要進(jìn)行等效電路測試,電路圖如下.

　　其中,Cd和Cg是外部負(fù)載電容,已內(nèi)置在芯片組中.(請參閱芯片組的規(guī)格)Rf是200KΩ?1MΩ的反饋電阻.它通常內(nèi)置在芯片組中.Rd是具有470Ω?1KΩ的極限電阻.該電阻對于普通電路不是必需的,而僅對于具有高電源的電路是必需的.穩(wěn)定的振蕩電路需要負(fù)電阻,并且其值至少應(yīng)為貼片晶振電阻的五倍.可以寫成|-R|>5Rr.例如,要獲得穩(wěn)定的振蕩電路,當(dāng)晶體電阻值為40Ω時(shí),IC的負(fù)電阻值必須低于200Ω.
　　“負(fù)阻力”是評估振蕩電路質(zhì)量的準(zhǔn)繩.在某些情況下,例如老化,熱變化,電壓變化等,如果”Q”的值過低,電路可能不會(huì)振蕩.因此,按照以下說明測量負(fù)電阻(-R)非常重要:首先將電阻(R)與晶體串聯(lián)連接,從起點(diǎn)到電阻調(diào)整R的值振蕩的停止點(diǎn).并在振蕩期間測量R的值.這樣就可以獲得負(fù)電阻值||R||.=R+Rr,Rr=晶體電阻.但是需要特別注意的是連接電路的雜散電容可能會(huì)影響測量值.
　　如果晶體的參數(shù)正常,但在振蕩電路中無法穩(wěn)定工作,則我們必須找出IC的電阻值是否太低而無法驅(qū)動(dòng)電路.如果是這樣,我們可以通過三種方法來改善這種情況:一是降低外部電容(Cd和Cg)的值,并采用具有較低負(fù)載電容(CL)的其他晶體.二是采用低電阻(Rr)的晶體.三是使用Cd和Cg值不相等的設(shè)計(jì).我們可以增加Cd(Xout)的負(fù)載電容,并減小Cg(Xin)的負(fù)載電容,以提高來自Xin的波形幅度輸出,該信號(hào)將在其后端電路中使用.
　　當(dāng)然,當(dāng)從晶振Xout輸出信號(hào)但沒有從Xin輸出信號(hào)時(shí),則表示后電極后端電路的功耗非常大.我們可以在電路的輸出與其后電極之間添加一個(gè)緩沖器,以驅(qū)動(dòng)后端電路.
晶體使用常見問題系列二之無信號(hào)輸出情況的分析及解決方案.

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